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產品名稱:BeamScope-P8鐳射光束分析儀
產品類型:光束輪廓分析儀
產品型號:BeamScope-P8
產品品牌:DataRay
行業應用:光/鐳射檢測

狹縫掃描

波長範圍  190-1100nm

            800-1800nm

            1.5-3.5um

分辨率   2um

最小光束  100um

掃描區域    5*7mm-Si

       3mm-Ge

       3mm-InGAS

結合二維運動    23*43mm

典型應用

à 激光/二極管激光表征

à 激光組件開發、對準、表征、生產測試和品控

à 如下應用的激光器和激光器組件

- 磁盤/晶圓表征

- 激光打印/打標

- 醫療激光

- 條形碼掃描儀等。

即時的:

à X-Y 輪廓測量

à 發散

à 橢圓、質心、高斯擬合

à 相對功率

特征:

à 光束尺寸 100um 45 mm

à 分辨率 2um 或 範圍0.5 %

à 190 nm 至 3.5um

à M2 測量附件

à 符合 ISO 11146

à 適用於密閉空間的窄探頭

à 前置

à 寬動態範圍

à 功能強大、直觀的軟件

à 升級選項,BeamScope-P7 至 USB 2.0

配件和選項

à M2 測量附件-USB 2.0

à UV - NIR 選項 190 至 3.5 µm

à 2-D 掃描平臺,用於 23 x 45 mm 輪廓分析

 

BeamScope-P8 系統包括:一個緊湊頭、接口盒、一根3 m (10 ft.) USB 2.0 纜、用戶手冊和適用於 Windows XP、Vista 或 Windows7 的軟件。

工作原理:線性掃描探頭帶有單個針孔、單個狹縫或正交 X-Y 狹縫。這種線性掃描滿足 ISO 11146 激光輪廓標準的嚴格要求。穿過狹縫的光落在矽(190 至 1150 nm)或鍺(800 至 1800 nm)測器上。 [* 在推出 DataRay BeamScope 光束分析儀之前,沒有市售的狹縫掃描或刀刃掃描光束分析儀符合 ISO 11146 標準。該標準要求在與傳播軸正交的平面上進行掃描。鼓式掃描儀不符合標準。 DataRay 獨特的線性掃描探頭的設計完全符合標準。]

獲取狹窄區域的光束輪廓BeamScope-P8 使曾經難以測量的光束輪廓的測量不僅成為可能,而且變得簡單。獨特的探頭式掃描頭可輕松觀察透鏡、反射鏡和濾光片之間狹窄的軸向間隙。它能夠探測窄至 12 毫米的沿軸空間,開創了一個全新的應用場景

沒有來自光學元件或濾光片的光束失真

光束不會因輔助光學元件或濾光片而失真,因為 BeamScope-P8 在分析大多數類型的激光器時不需要它們。 AUTO GAIN 功能可以連續調整探測器放大器增益,以確保充分利用 55 dB (300,000:1) 增益範圍。可以從單個掃描頭測量 3um 到 23 mm 的光斑尺寸。結合新的 2-D 運動附件掃描可達 23 x 45 mm 的光束區域。

前置光闌

前置光闌使您能夠準確地看到光束被測量的位置。如果您可以靠近光源,快速發散和快速聚焦的光束很容易捕獲。現在測量激光二極管陣列、微透鏡源、寬條紋激光器等比以往任何時候都更容易。可用的光闌可以在孔徑上容納可達 100 W/mm2 的功率密度。 (最大總功率 = 0.5 W)在幾分鐘內將孔徑從狹縫變為針孔。這賦予 BeamScope-P8 成為光束分析儀中良好的價值。

USB 2.0 的筆記本電腦便攜性

BeamScope 將接口插入您的筆記本電腦上的 USB 2.0 端口,以提供占用空間小的便攜式設備。

 

研發、品控和生產的良好選擇

研發用戶將感受較全面的分析功能。 QA 和生產工程師會喜歡將測試配置保存為 JOB 文件並在屏幕上指示通過/失敗的功能。

良好 M2 測量

BeamScopeTM P8 可選 M2DU-P8 附件不同於市場上的任何其他附件。沒有復雜的調整,但用戶可以實現高度可重復的測量。該軟件會自動在腰部區域進行更頻繁的測量,以準確確定真實的束腰直徑。

23 x 45 mm 2-D 掃描臺

DataRay 新的光束分析創新技術可在可達 23 x 45 毫米的光束區域上提供非凡的 0.2%(512 x 512 像素)分辨率, 5 x 5um (HxV)。二維掃描結果顯示在用於區域圖像分析的集成成像軟件中。



1. 2-D 和 3-D 輪廓是通過 X-Y 掃描「重建」的,假設測量的 X 光束輪廓對於所有 Y 值都相同,並且測量的 Y 光束輪廓對於所有值X都相同

2. 在單縫或針孔模式下,縫/針孔寬度應小於等於被測光束直徑的1/3。對於傾斜±45°  X-Y 狹縫對,該比率約為 1/5。

3. 在刀刃模式下,狹縫寬度應大於等於光束直徑的 3 倍。對於以±45° 傾斜的 X-Y 狹縫對,該比率是不小於光束直徑的4.3 倍。

功率限製。該圖允許您簡單地確定 BeamScope 可以在沒有額外衰減的情況下測量的近似最大光功率。該限製是探測器電流限製。

PxS 是以瓦特為單位的功率限製。

計算激光波長的功率極限:

該圖顯示了直徑為 100 μm 的光束 (1/e2 ) 和 5 μm 狹縫的近似飽和光束功率(以 mW 為單位)與波長的關系。

1) 確定波長的標繪值 PS mW。 (例如 633 nm 時為 70 mw)

2) 對於不同的狹縫或光束,將 PS 乘以:0.05.(光束直徑,μm)/(狹縫寬度,μm)

3) 對於針孔,將 PS 乘以0.05 x(光束直徑,μm)2 /(針孔直徑μm)2